一种半导体器件的制作方法

基本信息

申请号 CN202110751038.2 申请日 -
公开(公告)号 CN113488377A 公开(公告)日 2021-10-08
申请公布号 CN113488377A 申请公布日 2021-10-08
分类号 H01L21/027(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 蔡锦波;孙江涛 申请(专利权)人 马鞍山市槟城电子有限公司
代理机构 北京品源专利代理有限公司 代理人 潘登
地址 243000安徽省马鞍山市经济技术开发区湖西南路2189号5栋1号厂房南面
法律状态 -

摘要

摘要 本发明实施例公开了一种半导体器件的制作方法,该半导体器件的制作方法包括:第一制程、第二制程和第三制程中的一个或多个:其中,第一制程包括:在半导体衬底的至少一侧形成第一保护层;通过激光工艺去除部分第一保护层,以形成暴露半导体衬底的待掺杂区域的掺杂窗口;第二制程包括:在半导体衬底的至少一侧形成第二保护层;通过激光工艺去除部分第二保护层,以形成暴露半导体衬底的待挖槽区域的沟槽窗口;对待挖槽区域进行腐蚀处理,以形成沟槽;第三制程包括:在半导体衬底的至少一侧形成第三保护层;通过激光工艺去除部分第三保护层,以形成电极窗口。本发明实施例的技术方案通过激光去除掩膜,替代光刻实现图形转移。