一种四丁基脲中硫、氯含量的检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201910732886.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110455842A | 公开（公告）日 | 2019-11-15 |
| 申请公布号 | CN110455842A | 申请公布日 | 2019-11-15 |
| 分类号 | G01N23/223 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 潘伟中;朱晶晶;冯晓梅 | 申请（专利权）人 | 湖州吉昌化学有限公司 |
| 代理机构 | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 | 代理人 | 湖州吉昌化学有限公司 |
| 地址 | 313000浙江省湖州市南浔区和孚镇重兆村龙门桥庄介山 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种四丁基脲中硫、氯含量的检测方法，本发明的四丁基脲中硫、氯含量的检测方法，其检测原理是样品受X射线照射后，样品中待测元素中的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量)的强度与浓度的比例关系，进行定量分析。本发明采用单波长X射线荧光光谱仪，其利用双曲面变晶技术，使得被检测元素具有高选择性和高灵敏度，具有检测时间短（检测时间为60~300秒），检测操作简单，检测数据稳定性好、准确度高（标准偏差：≤0.5ppm(检测范围1~5ppm)，≤2.5ppm(检测范围1~50ppm)，检测成本低等优点。 |
