高通量测序突变检测结果的统计学验证方法
基本信息
| 申请号 | CN201610046810.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105574365B | 公开（公告）日 | 2018-10-26 |
| 申请公布号 | CN105574365B | 申请公布日 | 2018-10-26 |
| 分类号 | G06F19/24 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘志源;张静波;陈威 | 申请（专利权）人 | 北京圣谷同创科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 北京中政联科专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京圣谷同创科技发展有限公司 |
| 地址 | 100089 北京市海淀区东北旺西路8号9号楼二区104、105号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及高通量测序突变检测结果的验证方法，所述方法包括，首先建立感兴趣突变的阴性背景突变频率库，基于该阴性背景突变频率库，通过Z检验来验证高通量测序突变检测结果中单核苷酸取代类型的突变检测结果，通过卡方检验来验证高通量测序突变检测结果中连续多核苷酸缺失类型的突变检测结果。本发明方法可以实现对高通量测序突变检测结果的零成本验证，并且具有较高的正确性和灵敏度。 |
