一种多目DIC变形场测量装置和方法
基本信息
申请号 | CN201911204387.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111043978B | 公开(公告)日 | 2021-09-07 |
申请公布号 | CN111043978B | 申请公布日 | 2021-09-07 |
分类号 | G01B11/16 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 唐小军;杨凤龙;刘战捷;李海侠;回天力;殷蓬勃 | 申请(专利权)人 | 北京卫星制造厂有限公司 |
代理机构 | 中国航天科技专利中心 | 代理人 | 臧春喜 |
地址 | 100190 北京市海淀区知春路63号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种多目DIC变形场测量装置和方法,该装置包括:环境模拟器、测量支架、待测试件、两个CCD探测器、视场调节结构、测量基线杆、标准对比试件、底板、一体式圆形防护罩、图像采集与处理计算机和防护罩测控器;一体式圆形防护罩与测量支架连接,测量支架安装在底板上;视场调节结构的两端分别与一体式圆形防护罩和测量基线杆连接;两个CCD探测器分别安装在测量基线杆的两端;待测试件和标准对比试件分别设置在底板上;CCD探测器和一体式圆形防护罩分别通过导线/传输管线与图像采集与处理计算机和防护罩测控器连接。本发明适用于航天器结构在常压高低温、真空高低温环境下结构三维变形测量。 |
