测试治具及测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202010750753.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111983424A | 公开（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申请公布号 | CN111983424A | 申请公布日 | 2020-11-24 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 梁在炯;尹振武 | 申请（专利权）人 | 华润赛美科微电子（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 华润赛美科微电子（深圳）有限公司 |
| 地址 | 518172广东省深圳市龙岗区宝龙工业区宝龙五路5号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种测试治具及测试设备。所述测试治具包括：承载底座，开设有凹槽；弹性组件，固定在凹槽内；限位组件，可拆卸安装在凹槽内，当限位组件内置在凹槽内时，限位组件位于弹性组件上，限位组件的第一面开设有用于容置目标芯片的芯片放置区域，芯片放置区域的深度小于限位组件的厚度；其中，第一面为所述限位组件远离凹槽的一面。本申请测试治具中的限位组件上开设有用于容置目标芯片的芯片放置区域，且芯片放置区域的深度小于限位组件的厚度，对放置在芯片放置区域的目标芯片进行压测时，通过位于限位组件下面的弹性组件，使得目标芯片随限位组件向凹槽内部移动，起到保护目标芯片，降低压测引起的目标芯片引脚弯曲的目的。 |
