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大芯径光纤衰减系数测试方法

基本信息

申请号 CN202111559023.2 申请日 -
公开（公告）号 CN114221696A 公开（公告）日 2022-03-22
申请公布号 CN114221696A 申请公布日 2022-03-22
分类号 H04B10/071（2013.01）I;H04B10/079（2013.01）I;G02B6/25（2006.01）I;G02B6/255（2006.01）I 分类 电通信技术;
发明人 徐进;张承炎;陈章汝 申请（专利权）人 长飞光纤光缆股份有限公司
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 胡建平;孙方旭
地址 430073湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道9号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种大芯径光纤衰减系数测试方法，样品光纤Xn的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径Rn熔融拉锥至Rn+1，样品光纤Xn被制作成为桥纤Yn。将所制作的桥纤根据光纤芯径大小依次排列，使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来。将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接，使用OTDR对待测光纤进行测试，得到待测光纤的衰减系数测试结果。本发明测试的方法对于各种类型及不同工艺方法制造的大芯径光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，能极大的提高生产测试效率降低测试成本并解决衰减均匀性测试困难的问题。