半导体激光装置及其制造方法
基本信息
申请号 | CN200610106015.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN1901302A | 公开(公告)日 | 2007-01-24 |
申请公布号 | CN1901302A | 申请公布日 | 2007-01-24 |
分类号 | H01S5/40(2006.01);H01S5/026(2006.01);H01S5/323(2006.01);H01S5/343(2006.01);H01S5/16(2006.01) | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 福久敏哉;万浓正也;古川秀利 | 申请(专利权)人 | 松下汽车电子系统(苏州)有限公司 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪惠民 |
地址 | 日本大阪府 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种半导体激光装置及其制造方法,特别是,在二波长激光装置等的单片集成激光装置中,根据1次的杂质扩散工序,在活性层的发射边缘面附近区域分别形成良好的窗口区。其包括:发出第1波长激光的第1元件和发出第2波长激光的第2元件,该第1元件由第一导电型的第1覆层101、位于发射边缘面附近具有第1窗口区的第1活性层102、和第二导电型的第1覆层103在衬底上从下依次层积形成,该第2元件由第一导电型的第2覆层104、位于发射边缘面附近具有第2窗口区的第2活性层105、和第二导电型的第2覆层106在衬底上从下依次层积形成;第二导电型的第1覆层103的晶格常数及第二导电型的第2覆层106的晶格常数是被调整的常数,以使得在第1活性层102的第1窗口区中所含的杂质的扩散速度、和在第2活性层105的第2窗口区中所含的杂质的扩散速度的差异获得补偿。 |
