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光学器件的试验装置

基本信息

申请号 CN200610067324.2 申请日 -
公开（公告）号 CN100505201C 公开（公告）日 2009-06-24
申请公布号 CN100505201C 申请公布日 2009-06-24
分类号 H01L21/66(2006.01)I;H01S3/13(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 早水勲;西川透;立柳昌哉;田中彰一 申请（专利权）人 松下汽车电子系统（苏州）有限公司
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 张 鑫
地址 日本大阪府
法律状态 -

摘要

摘要 本发明揭示一种光学器件的试验装置。即使是外部连接端子接触面的位置与半导体激光元件的发光出射方向之间的位置关系不同的形态的光学器件，也可以兼用试验装置进行试验。