一种SERS芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202121417991.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214953941U | 公开（公告）日 | 2021-11-30 |
| 申请公布号 | CN214953941U | 申请公布日 | 2021-11-30 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 涂卫东;黄丽波 | 申请（专利权）人 | 广东天鉴检测技术服务股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市正德知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 杨正峰;杨佳龙 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区67区留仙一路甲岸科技园1号厂房7楼（办公场所） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，具体涉及一种SERS芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶面安装有检测仪本体和机械臂，所述机械臂的一端固连有抓取机构，所述抓取机构包括固定件，所述固定件的内部开设有空腔，所述固定件的顶面中心位置开设有贯穿孔。本实用新型中，通过限位盘和固定件的设置，当吸盘将芯片吸起后，驱动盘转动带动四个直角卡接件向中间靠拢对芯片进行挤压卡接，四个直角卡接件将芯片夹在中间位置，实现对芯片位置的调整和限位，从而修正芯片的位置误差，使得芯片与限位环中心对齐，便于机械手准确将芯片放进检测仪本体的检测槽内，避免人工频繁调整芯片位置和放置芯片。 |
