一种电路元器件工作寿命抽样检验方法
基本信息
| 申请号 | CN202110248555.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112906231A | 公开（公告）日 | 2021-06-04 |
| 申请公布号 | CN112906231A | 申请公布日 | 2021-06-04 |
| 分类号 | G06F30/20;G06F111/08;G06F119/04;G06F119/08;G06F119/14 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张南法;束静;张梅 | 申请（专利权）人 | 常州市创捷防雷电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人 | 丁燕华 |
| 地址 | 213000 江苏省常州市钟楼经济开发区银杏路62号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下，试验到规定时间t时截止试验，试验中出现的不合格样品数r，不应超过规定的合格判定数c。本发明设计的抽样检验方案，解决了目前压敏电阻器（MOV）和避雷器阀片（MOA）无寿命评定方法可循的难题。 |
