一种内存测试方法及内存测试设备
基本信息
申请号 | CN201911382043.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113053452A | 公开(公告)日 | 2021-06-29 |
申请公布号 | CN113053452A | 申请公布日 | 2021-06-29 |
分类号 | G11C29/50;G11C29/56 | 分类 | 信息存储; |
发明人 | 韩小兵;戴清海;钟衍徽 | 申请(专利权)人 | 中山市江波龙电子有限公司 |
代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 黎坚怡 |
地址 | 528400 广东省中山市翠亨新区和清路9号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种内存测试方法,包括:控制待测内存的至少一个工作电压和/或运行频率按照预设规则进行变化;以及在变化中的至少一个工作电压和/或运行频率下,控制执行至少一个图形算法,以对所述待测内存进行测试。本发明还提供相应的内存测试设备。本发明能够有效提高良品率。 |
