存储装置的测试方法、测试装置、测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202011412743.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112579371A | 公开（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申请公布号 | CN112579371A | 申请公布日 | 2021-03-30 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I;G06F11/263(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 卞瑶;郭丹 | 申请（专利权）人 | 中山市江波龙电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎坚怡 |
| 地址 | 528400广东省中山市翠亨新区和清路9号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及存储装置测试技术领域，公开了存储装置的测试方法、测试装置、测试系统。该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试，该方法包括：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。通过上述方式，提升对存储装置的测试效果。 |
