一种测试座
基本信息
申请号 | CN202020809330.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213023212U | 公开(公告)日 | 2021-04-20 |
申请公布号 | CN213023212U | 申请公布日 | 2021-04-20 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 任楚建;钟衍徽;程振 | 申请(专利权)人 | 中山市江波龙电子有限公司 |
代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 何倚雯 |
地址 | 528400广东省中山市翠亨新区和清路9号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请公开了一种测试座,该测试座包括底座、盖体和温控组件,其中,底座上设置有测试组件和弹针,盖体连接所述底座,且可相对于所述底座转动形成盖合状态或分离状态,所述盖体朝向所述底座的一侧设置有压块,用于在所述底座和所述盖体呈盖合状态时,对所述底座上放置的待测件进行按压,以使所述待测件与所述测试组件接触,温控组件设置于所述盖体和所述压块之间,用于通过所述压块进行热传导,对所述待测件进行温度检测和温度控制,并在所述底座和所述盖体呈盖合状态时,接触所述弹针以通过所述弹针连接外部电路板。通过上述方式,本申请能够在测试芯片时调节并采集芯片的温度,以准确管控芯片测试的温度条件。 |
