一种芯片测试数据处理方法、装置及芯片
基本信息
| 申请号 | CN201910614503.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110399282A | 公开（公告）日 | 2019-11-01 |
| 申请公布号 | CN110399282A | 申请公布日 | 2019-11-01 |
| 分类号 | G06F11/34（2006.01）I; G06F11/22（2006.01）I; G06F11/263（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 杨丽宁 | 申请（专利权）人 | 西安芯海微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳协成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 西安芯海微电子科技有限公司 |
| 地址 | 710000 陕西省西安市高新区丈八街办唐延南路8号3G智能终端产业园A座5-01 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本文公开了一种芯片测试数据处理方法、装置及芯片，属于集成电路技术领域，该方法包括：获取芯片中待测试功能模组的监测数据；对所述监测数据进行数据分析，获得有效数据；根据预设的数据控制逻辑对所述有效数据进行采集，获得待测试数据；将所述待测试数据输出至至少一个测试端口；进行测试；通过对芯片内部的逻辑功能模块输出的监测，加快了芯片测试速度，且可应用于各种芯片中，覆盖率较高，普适性强。 |
