芯片电路功能验证系统、方法、设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110853924.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113312879A | 公开（公告）日 | 2021-08-27 |
| 申请公布号 | CN113312879A | 申请公布日 | 2021-08-27 |
| 分类号 | G06F30/398（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 杨兵;毕金琼;郑晓萌;李春红;帅晋;李振 | 申请（专利权）人 | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孔凡红 |
| 地址 | 100191北京市海淀区知春路23号14层1401、1403、1405、1407室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种芯片电路功能验证系统、方法、设备及存储介质。其中，系统包括：激励生成模块、执行模块、待测电路、参考模型和检验器；激励生成模块获取芯片软件仿真结果并生成目标验证激励，将目标验证激励输入至执行模块和参考模型；执行模块根据目标验证激励对待测电路进行参数配置，并生成目标激励信号输入至待测电路；待测电路根据参数配置结果和目标激励信号生成测试输出结果；参考模型根据目标验证激励模拟生成参考输出结果；检验器对测试输出结果和参考输出结果进行匹配以获取待测电路的功能验证结果。本发明实施例可以提高芯片电路功能验证的时间效率、资源利用率以及准确性，促进大规模应用场景验证的实现。 |
