数字测试装置（MS7050）
基本信息
| 申请号 | CN201830169458.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN304918231S | 公开（公告）日 | 2018-11-30 |
| 申请公布号 | CN304918231S | 申请公布日 | 2018-11-30 |
| 分类号 | - | 分类 | - |
| 发明人 | 赵坤岭;李全任 | 申请（专利权）人 | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 上海宏测半导体科技有限公司;南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 地址 | 200001 上海市黄浦区北京东路666号B区604室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：数字测试装置（MS7050）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试各类数字集成电路的功能、直流参数、管脚特性和交流参数，适合芯片设计公司进行设计验证或封测工厂进行大批量晶圆或成品测试。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的整体形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 |
