用于校准分析物测量值的方法以及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

用于校准分析物测量值的方法以及系统

基本信息

申请号	CN201510230848.8	申请日	-
公开（公告）号	CN106198770B	公开（公告）日	2021-05-18
申请公布号	CN106198770B	申请公布日	2021-05-18
分类号	G01N30/02;G01N30/50	分类	测量；测试;
发明人	骆亦奇;余国良	申请（专利权）人	杭州量康科技有限公司
代理机构	北京华进京联知识产权代理有限公司	代理人	哈达
地址	310053 浙江省杭州市滨江区滨安路688号D座4层
法律状态	-

摘要

本申请一方面提供了一种确定应用于待校准测量系统的校准系数的方法，包括：获取N₁个校准用样本对，将所述N₁个校准用样本对存储时间T₁，对每个所述存储时间T₁后的方法一样本M_T1以及相应的方法二样本S_T1中的分析物的含量进行检测，其中N₁个所述方法一样本中的分析物的测量值分别为Y_1,T1,Y_2,T1…Y_N1,T1，并且对应的N₁个所述方法二样本中的分析物的测量值分别为X_1,T1,X_2,T1…X_N1,T1，N₁为大于等于2的整数；以及通过对上述测量值Y_1,T1,Y_2,T1…Y_N1,T1以及X_1,T1,X_2,T1…X_N1,T1进行数据处理，确定反映在存储时间T₁时方法一样本与方法二样本中的分析物的测量值之间映射关系的校准方程的校准系数。本申请的另一方面提供了一种用于校准待测样本中的分析物的测量值的方法和系统，以用于临床检验中。