用于校准分析物测量值的方法以及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

用于校准分析物测量值的方法以及系统

基本信息

申请号	CN201510230848.8	申请日	-
公开（公告）号	CN106198770A	公开（公告）日	2016-12-07
申请公布号	CN106198770A	申请公布日	2016-12-07
分类号	G01N30/02;G01N30/50	分类	测量；测试;
发明人	骆亦奇;余国良	申请（专利权）人	杭州量康科技有限公司
代理机构	北京市君合律师事务所	代理人	毕长生;孙海龙
地址	310053 浙江省杭州市滨江区滨安路688号D座4层
法律状态	-

摘要

本申请一方面提供了一种确定应用于待校准测量系统的校准系数的方法，包括：获取N1个校准用样本对，将所述N1个校准用样本对存储时间T1，对每个所述存储时间T1后的方法一样本MT1以及相应的方法二样本ST1中的分析物的含量进行检测，其中N1个所述方法一样本中的分析物的测量值分别为Y1,T1,Y2,T1…YN1,T1，并且对应的N1个所述方法二样本中的分析物的测量值分别为X1,T1,X2,T1…XN1,T1，N1为大于等于2的整数；以及通过对上述测量值Y1,T1,Y2,T1…YN1,T1以及X1,T1,X2,T1…XN1,T1进行数据处理，确定反映在存储时间T1时方法一样本与方法二样本中的分析物的测量值之间映射关系的校准方程的校准系数。本申请的另一方面提供了一种用于校准待测样本中的分析物的测量值的方法和系统，以用于临床检验中。