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一种二极电子元器件的检测装置

基本信息

申请号 CN201410128982.2 申请日 -
公开（公告）号 CN103926487A 公开（公告）日 2014-07-16
申请公布号 CN103926487A 申请公布日 2014-07-16
分类号 G01R31/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李文俊;沈镇炜;王雪春 申请（专利权）人 南京昊飞软件有限公司
代理机构 南京瑞弘专利商标事务所（普通合伙） 代理人 南京飞腾电子科技有限公司;南京昊飞软件有限公司
地址 211111 江苏省南京市江宁区秣陵工业园蓝霞路6号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种二极电子元器件的检测装置，包括基座、测试针和T型定位件；所述基座上设置有一段竖直方向的导轨，所述T型定位件与导轨匹配；所述测试针固定在基座上，且测试针穿过T型定位件的横杆后其上的测试端露出基座；所述测试针上套有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧上端固定在基座上、下端抵在T型定位件的横杆上。首先利用T型定位件将非焊接状态下的二极电子元器件压紧固定，然后再平缓地下降测试针，使得测试针与待测的二极电子元器件两端良好接触，减少测量失败的概率，提高检测效率；同时，有效保护电子元器件和测试针，防止其弯曲或扎断。