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高压集成电路VS瞬态负压耐受能力测试装置及方法

基本信息

申请号	CN201310199533.2	申请日	-
公开（公告）号	CN103308848A	公开（公告）日	2013-09-18
申请公布号	CN103308848A	申请公布日	2013-09-18
分类号	G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	高存旗;刘杰;张华群	申请（专利权）人	上海奔赛电子科技发展有限公司
代理机构	深圳市凯达知识产权事务所	代理人	上海奔赛电子科技发展有限公司
地址	201204 上海市浦东新区牡丹路60号东辰大厦1707室
法律状态	-

摘要

本发明提供一种高压集成电路VS瞬态负压耐受能力测试装置，包括半桥驱动电路和负压产生电路，所述负压产生电路包括控制电路、第一开关器件和负压调节电源；所述控制电路可连接至高压集成电路的HIN信号输入端，用于产生预定脉宽的脉冲信号并驱动第一开关器件通断；所述第一开关器件的输出端连接至半桥驱动电路的输出节点，输入端连接至所述负压调节电源，当第一开关器件导通时，可将与所述负压调节电源绝对值相等的负压叠加到半桥驱动电路的输出节点上。本发明还提供一种测试方法。本发明提供的测试装置在所述半桥驱动电路的基础上增加负压产生电路，能产生一幅值和持续时间可连续调节的VS瞬态负压，从而实现对高压集成电路VS瞬态负压耐受能力测试。