双列直插式存储器模块的测试方法、系统、介质及装置
基本信息
| 申请号 | CN201911174027.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110955569B | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN110955569B | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I;G11C29/10（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 侯林;黄威 | 申请（专利权）人 | 英业达科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 徐秋平 |
| 地址 | 201114上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种双列直插式存储器模块的测试方法、系统、介质及装置，所述方法包括以下步骤：获取双列直插式存储器模块在服务器的位置；修改发现不良的双列直插式存储器模块后的保护机制，对各个双列直插式存储器模块进行测试；将测试结果保存在基板管理控制模块的系统事件日志中。本发明的一种双列直插式存储器模块的测试方法、系统、介质及装置，用于防止在对于双列直插式存储器模块的测试过程关闭服务器，及时发现不良的双列直插式存储器模块。 |
