一种电子设备测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201721617818.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN207488391U | 公开（公告）日 | 2018-06-12 |
| 申请公布号 | CN207488391U | 申请公布日 | 2018-06-12 |
| 分类号 | G01R31/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 佘强;江虹;朱晓辉;李炜 | 申请（专利权）人 | 北京华瑞达测控技术有限责任公司 |
| 代理机构 | 武汉智权专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 北京华瑞达测控技术有限责任公司 |
| 地址 | 100083 北京市海淀区花园路1号塔院写字楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种电子设备测试系统，涉及设备测试领域，包括：测量单元；激励单元；多功能测试单元，多功能测试单元包括：扩展仪器接口、任意波输出接口、矢量信号源输出接口、模拟信号源输出接口、探笔接口、测试接口、钩式测试夹接口、通用扩展接口以及至少9个辅助连接开关，辅助连接开关为多路射频开关。本实用新型借助多个辅助连接开关，通过选择辅助连接开关内部通路的方式，使得测量单元、激励单元以及多功能测试单元的各子接口根据需要进行连通，从而满足不同的测试需求，不必手动插拔连接导线降低测试连接错误的概率，提高工作人员的测试效率。 |
