一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202011460698.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112595726A | 公开（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申请公布号 | CN112595726A | 申请公布日 | 2021-04-02 |
| 分类号 | G01N21/95(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孙浩;李牧词;茆胜 | 申请（专利权）人 | 深圳市智联汇网络系统企业（有限合伙） |
| 代理机构 | 上海洞鉴知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘少伟 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区粤海街道科丰路2号特发信息港D栋一楼东侧2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明为涉及一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，包括以下步骤：将待检测样品置于检测平台，并点亮所述待检测样品；通过图像采集系统(CCD)获取所述待检测样品的图像信息；将所述图像信息与基准信息进行对比，获得实际缺陷数据。有益效果是：可以快速准确的对OLED微型显示器件的像素缺陷进行检测，并能完整记录像素缺陷的形貌，并对像素缺陷的小大进行量化处理，并对像素缺陷的位置进行定位，提高了检测效率，准确性，对OLED微型显示器件的工艺提高具有积极的帮助。 |
