一种基于SRPUF的可靠性自检和可靠响应去偏方法
基本信息
| 申请号 | CN202210163141.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114679277A | 公开（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申请公布号 | CN114679277A | 申请公布日 | 2022-06-28 |
| 分类号 | H04L9/32（2006.01）I;H04L9/36（2006.01）I | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 贺章擎;马丹;鲁犇;朱昕蕊;张霄;张寅 | 申请（专利权）人 | 湖北工业大学 |
| 代理机构 | 武汉华强专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 430068湖北省武汉市洪山区南李路28号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种基于SR PUF的可靠性自检和可靠响应去偏方法，其特征在于：包括可靠性标志生成部分和可靠响应去偏部分，所述可靠性标志生成部分包括控制模块、基于PDL的SR Latch PUF模块和可靠性标志产生模块，可靠响应去偏方法分为响应注册阶段和响应恢复阶段，对可靠响应进行去偏处理。本发明方法可以在芯片出厂时或者使用过程进行实时动态自检，准确性高且方式灵活，不需要出厂时改变环境温度进行极限测试，也可以实时检测出老化或其他原因所引起的不可靠响应。 |
