检测光学系统任意波长透射波前的方法
基本信息
申请号 | CN201910573002.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110307962B | 公开(公告)日 | 2019-10-08 |
申请公布号 | CN110307962B | 申请公布日 | 2019-10-08 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张齐元;韩森;吴鹏;王全召;李雪园 | 申请(专利权)人 | 苏州维纳仪器有限责任公司 |
代理机构 | 上海德昭知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郁旦蓉 |
地址 | 215123江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150第二教学楼B109室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了两种检测光学系统任意波长透射波前的方法,一种是利用4种波长为λ1~λ4的激光干涉仪分别对复消色差光学系统进行检测,进而通过Zernike多项式拟合波长为λn的光学系统的透射波前;另一种是通过利用4种波长为λ1~λ4的检测装置分别对光学系统进行检测,进而通过离散点波前像差公式得到波长为λn的光学系统完整的透射波前。这两种方法均能够应用在单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中,从而解决主要的透射式光学系统任意波长波前检测的问题。不仅使得特殊波长的激光干涉仪的检测范围变大,而且当需要检测一些特殊的光学系统时,也不需要使用造价昂贵的特殊波长的激光干涉仪进行检测,节约了检测成本。 |
