一种平面检测仪的校正装置
基本信息
申请号 | CN201310577347.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN103644886B | 公开(公告)日 | 2016-04-27 |
申请公布号 | CN103644886B | 申请公布日 | 2016-04-27 |
分类号 | G01B21/30(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张素平 | 申请(专利权)人 | 苏州朗博校准检测有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 235000 安徽省淮北市烈山区第七中学 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种平面检测仪的校正装置,所述的平面检测仪的校正装置包含一圆形的基盘,所述的基盘上设有一纵向设置的调节杆,所述的调节杆上设有一固定凸块,所述的固定凸块上设有一固定通孔,所述的固定通孔内设有一手动旋钮,所述的手动旋钮包含一调节齿盘和一旋钮枢轴,所述的旋钮枢轴贯穿所述的固定通孔,所述的旋钮枢轴的头部设有一定位通孔,所述的定位通孔内设有一定位探针。本发明的平面检测仪的校正装置利用“L”形的定位探针,使用者可以同时检测横向上和纵向上的平面度,简单方便,检测效率高。另外,使用者可以根据待检物的尺寸来调节固定凸块的高度,设置灵活,实用性强。 |
