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一种触碰式柔顺小天体采样系统及采样方法

基本信息

申请号 CN202111457575.2 申请日 -
公开（公告）号 CN113884334A 公开（公告）日 2022-01-04
申请公布号 CN113884334A 申请公布日 2022-01-04
分类号 G01N1/08（2006.01）I;B25J9/06（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 李俊麟;张威;周维佳;张伟;李振新;黄昊 申请（专利权）人 沈阳中科新宇空间智能装备有限公司
代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人 何丽英
地址 110016辽宁省沈阳市沈河区文萃路69号311室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及空间探测技术领域，特别涉及一种触碰式柔顺小天体采样系统及采样方法。包括星体平台及设置于星体平台上的主控制器、样品存储系统、监视系统、柔顺机械臂及工具库；样品存储系统用于样品的储存和密封；监视系统用于获取卫星与小天体之间的相对距离信息、倾角信息、小天体地形条件和星壤颗粒状态及监视采样过程，并将获取信息发送给主控制器；自适应关节用于安装工具头；采样工具库用于安装工具头；主控制器用于接收监视系统发送信息，并根据接收的信息控制柔顺机械臂拾取对应的采样工具，进行采样。本发明能够解决采样过程控制、复杂地形适应性、样品密封返回等难题，达到小天体自主、安全、高效样品采集和密封返回的目的。