确定磁导系数的方法
基本信息
| 申请号 | CN201911421707.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113126008B | 公开（公告）日 | 2022-05-31 |
| 申请公布号 | CN113126008B | 申请公布日 | 2022-05-31 |
| 分类号 | G01R33/12（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孙珊珊;史学伟;王进东;钮萼;王湛;饶晓雷;胡伯平 | 申请（专利权）人 | 北京中科三环高技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京英创嘉友知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 100190北京市海淀区中关村东路66号甲1号长城大厦27层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开涉及一种确定磁导系数的方法，以解决相关技术中无法测量非圆柱体、非长方体、非椭球体等形状磁体磁导系数的问题。该方法用于确定任意形状磁体的磁导系数，包括：确定磁体样品在第一温度下的第一退磁曲线，并根据第一退磁曲线，确定第一剩余磁感应强度和第一矫顽力值；确定磁体样品在第二温度下的第二退磁曲线，并根据第二退磁曲线，确定第二剩余磁感应强度和第二矫顽力值，第二温度大于第一温度；确定磁体样品从第三温度升温至第二温度、再降温至第三温度的减磁率；按照相应公式，确定磁体样品的磁导系数。 |
