一种用于光学元器件检测的系统
基本信息
| 申请号 | CN202122378470.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215865752U | 公开（公告）日 | 2022-02-18 |
| 申请公布号 | CN215865752U | 申请公布日 | 2022-02-18 |
| 分类号 | G01M11/04（2006.01）I;G01M11/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 林琳;黄创文 | 申请（专利权）人 | 深圳市海谱纳米光学科技有限公司 |
| 代理机构 | 厦门福贝知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈远洋 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区69区中粮创芯研发中心1栋1903，1904 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种用于光学元器件检测的系统，包括恒温箱、温控器和热传感元件，恒温箱中空且底部内壁设有加热元件，恒温箱的中空腔内底部设有用于承载光学元器件的承载台；恒温箱的顶部和底部设有与承载台的位置相对应的通光孔；热传感元件设于靠近光学元器件的上方并不干涉光学元器件的位置，温控器与加热元件和热传感元件分别电连接，以调节恒温箱内的检测温度至恒温。通过在恒温箱上开设通光区域，内置热传感元件反馈温度，并由温控器对比预设温度与反馈温度控制加热元件的开关，使待测元器件所在的检测环境温度保持在设定的温度范围内，适用于检测光学元器件及其组件的温度变化性能及光路折射性能。 |
