一种对高光谱图像进行点对点白参比校正的方法与系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种对高光谱图像进行点对点白参比校正的方法与系统

基本信息

申请号	CN202111477742.X	申请日	-
公开（公告）号	CN113920113B	公开（公告）日	2022-03-18
申请公布号	CN113920113B	申请公布日	2022-03-18
分类号	G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06V10/58（2022.01）I;G06V10/25（2022.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	黄锦标;郁幸超;任哲;郭斌	申请（专利权）人	深圳市海谱纳米光学科技有限公司
代理机构	厦门福贝知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	陈远洋
地址	518000广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区69区中粮创芯研发中心1栋1903，1904
法律状态	-

摘要

本发明给出了一种对高光谱图像进行点对点白参比校正的方法与系统，包括预先拍摄标准参考白板的高光谱数据white（x,y,w），并存储记录；再拍摄样品数据高光谱数据sample（x,y,w）；在样品高光谱数据sample（x,y,w）中选取一小块没有被遮挡的白板区域，记为区域A；在样品图像上计算该ROI区域内的光谱平均值，得到SA（w）；并计算白板数据中相同ROI区域内的平均光谱，得到WA（w）；两者相除，得到矫正系数alpha（w）；将白参矫正系数alpha（w）乘以白参比矫正后的样品反射率图像矩阵，得到最终的高光谱反射比图像矩阵。本发明无需单独采集白板光谱，降低了数据采集时间，增加了分析效率，可以有效提升高光谱分析的准确性；并且，使用同一次拍摄的数据做白参矫正，大大增加了测量的可靠性和可重复性。