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一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统

基本信息

申请号 CN202010919600.3 申请日 -
公开（公告）号 CN112037270A 公开（公告）日 2020-12-04
申请公布号 CN112037270A 申请公布日 2020-12-04
分类号 G06T7/32;G06T7/37 分类 计算；推算；计数;
发明人 张杰;徐蔚;张学莹;王麟;李绍新 申请（专利权）人 致真精密仪器（青岛）有限公司
代理机构 北京智绘未来专利代理事务所（普通合伙） 代理人 北京航空航天大学;致真精密仪器（青岛）有限公司
地址 100191 北京市海淀区学院路37号
法律状态 -

摘要

摘要 一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统，方法包括以下步骤：步骤1，选择参考图像与待处理图像，选择参考区域；步骤2，使用相位相关法得到相位相关矩阵；步骤3，使用奇异值分解法得到频域上线性相位，使用拟合法处理该线性相位，得到横偏移量和纵偏移量；步骤4，自动移动待处理图像；步骤5，将参考图像和自动移动后的待处理图像做差，观察图像自动校正结果，步骤6，自定义输入任意横、纵偏移量、旋转角度，移动待处理图像，将参考图像和所述自定义移动后的待处理图像做差，观察图像自定义校正结果；步骤7，存储配准矫正效果图像。本发明可以完成亚像素精度的自动配准矫正，可自动执行预处理、偏移量计算、配准矫正等操作。