EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201611019471.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106680618A | 公开（公告）日 | 2017-05-17 |
| 申请公布号 | CN106680618A | 申请公布日 | 2017-05-17 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 汪桃林;范凤军;陈斌;谢恒贵;马秋萍;戴利剑;曹焕丽 | 申请（专利权）人 | 上海航天探维传媒科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海航天局专利中心 | 代理人 | 余岢 |
| 地址 | 201109 上海市闵行区元江路3888号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法，本发明公开的EMI测量系统脉冲强度测量装置包括：宽带衰减器、宽带示波器、PC机；宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理；宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号；PC机控制宽带示波器自动截取单脉冲波形，并计算脉冲强度。通过本发明可以快速测量脉冲强度参数。 |
