一种微波电场强度测量方法和测量装置
基本信息
| 申请号 | CN201710400038.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107179450B | 公开（公告）日 | 2019-10-11 |
| 申请公布号 | CN107179450B | 申请公布日 | 2019-10-11 |
| 分类号 | G01R29/12 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 廖开宇;何鹏;张新定;黄巍;杜炎雄;颜辉 | 申请（专利权）人 | 清远市天之衡量子科技有限公司 |
| 代理机构 | 广州容大专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 华南师范大学 |
| 地址 | 510000 广东省广州市天河区中山大道西55号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种微波电场强度测量方法及测量装置，所述测量方法包括如下步骤：将第一激光器产生的探测光分为两束相同的探测光，其中一束探测光进入铷泡，另一束探测光进入真空设备；第二激光器产生的耦合光进入铷泡，耦合光和探测光将铷泡中的热原子从基态相干激发到里德堡态，并在原子蒸气室内实现电磁诱导透明；将微波源产生的微波电场施加到热原子上，将另一邻近里德堡态耦合到三能级EIT系统上，形成一个四能级系统；分别探测从铷泡和真空设备出射的两路透射光，通过分析两路透射光的色散关系，确定两路透射光的时间差，即可获得微波电场强度。 |
