一种用于芯片的智能检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202110957249.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113410154A | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN113410154A | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | H01L21/66（2006.01）I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 郑梅枝 | 申请（专利权）人 | 深圳市轻生活科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市福田区福田街道福民社区滨河大道5003号爱地大厦东座1502 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种用于芯片的智能检测方法，步骤1：对目标芯片进行基础检测，当基础检测合格之后，按照目标芯片在不同环境下的执行属性，对目标芯片进行区域划分，并获取每个区域的区域检测列表；步骤2：按照区域检测列表，向对应区域分配检测方式列表，并基于检测方式列表中的检测方式对区域检测列表中的区域构件进行相应检测，判断目标芯片是否合格通过基础检测并结合对不同环境下的区域的检测列表中的构件进行对应方式的检测，提高检测有效性，保证芯片使用效率。 |
