一种芯片外观不良分拣方法和系统

基本信息

申请号 CN202110905324.X 申请日 -
公开(公告)号 CN113333306B 公开(公告)日 2021-10-08
申请公布号 CN113333306B 申请公布日 2021-10-08
分类号 B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36 分类 将固体从固体中分离;分选;
发明人 郑梅枝 申请(专利权)人 深圳市轻生活科技有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 518000 广东省深圳市福田区福田街道福民社区滨河大道5003号爱地大厦东座1502
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提出了一种芯片外观不良分拣方法和系统,所述方法包括:检测识别外观不良的芯片,并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码;在芯片传输过程中实时扫描每个芯片,确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码;当检测到芯片存在不良外观标定识别码时,控制推送装置将所述带有不良外观标定识别码的芯片推至芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域,并对芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数;控制反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测,在复合检测无误后,在外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片尽进行分拣。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。