商标进度

商标申请

初审公告

已注册

4

终止

商标详情

商标
Z
商标名称 ZK 商标状态 商标已注册
申请日期 2016-12-30 申请/注册号 22473277
国际分类 09类-科学仪器 是否共有商标
申请人名称(中文) 武汉中科创新技术股份有限公司 申请人名称(英文) -
申请人地址(中文) 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路126号超声波自动检测设备及UT研发中心建设项目综合楼1-6层 申请人地址(英文) -
商标类型 变更商标申请人/注册人名义/地址---核准证明打印发送 商标形式 -
初审公告期号 1574 初审公告日期 2017-11-06
注册公告期号 22473277 注册公告日期 2018-02-07
优先权日期 - 代理/办理机构 湖北华中商标事务所有限公司
国际注册日 - 后期指定日期 -
专用权期限 2018-02-07-2028-02-06
商标公告 -
商品/服务
计算机外围设备(0901)
集成电路卡(0901)
计算机软件(已录制)(0901)
可下载的计算机应用软件(0901)
测量器械和仪器(0910)
材料检验仪器和机器(0910)
成套电气校验装置(0910)
探测器(0910)
测量仪器(0910)
工业遥控操作用电气设备(0914)
商标流程
2016-12-30

商标注册申请---申请收文

2017-02-10

商标注册申请---等待受理通知书发文

2018-03-26

变更商标申请人/注册人名义/地址---申请收文

2018-03-29

商标注册申请---等待注册证发文

2018-04-20

变更商标申请人/注册人名义/地址---核准证明打印发送