基于有限口径下的微波多目标成像与分类方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

基于有限口径下的微波多目标成像与分类方法

基本信息

申请号	CN202110364839.3	申请日	-
公开（公告）号	CN113324470A	公开（公告）日	2021-08-31
申请公布号	CN113324470A	申请公布日	2021-08-31
分类号	G01B7/28（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06F17/15（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	徐魁文;费跃波;陈炳敏;施欢欢;袁成;程贤	申请（专利权）人	浙矿重工股份有限公司
代理机构	杭州中利知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	韩洪
地址	313100浙江省湖州市长兴县和平镇工业园区
法律状态	-

摘要

本发明提出了一种基于有限口径下的微波多目标成像与分类方法，包括以下步骤：基于SOM方法来实现有限口径下的三维电磁逆散射成像，先将感应电流划分为确定性部分与模糊性部分，然后构造目标函数，并用共轭梯度方法来优化该目标函数，获得使数据模型与仿真模型之间最匹配的介电常数分布情况；S2.分别在x＝‑λ，x＝+λ，z＝+λ三个面上设置发射器与接收器来探测散射场数据；S3.将需要被探测的多目标物体置于有限口径三维成像系统的探测区域，通过微波超分辨成像与技术对目标区域进行反演成像，从而获取关于目标的特征，最后根据获取的特征对多目标进行分类处理。该方法能有效的提取目标的几何特征以及物理特征，成功实现对多目标的探测、成像与分类。