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光敏芯片测试基板装置

基本信息

申请号 CN202023353046.1 申请日 -
公开（公告）号 CN214335143U 公开（公告）日 2021-10-01
申请公布号 CN214335143U 申请公布日 2021-10-01
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 孙夺;刘大福 申请（专利权）人 无锡中科德芯感知科技有限公司
代理机构 上海弼兴律师事务所 代理人 杨东明;罗洋
地址 214028江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座901—910室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种光敏芯片测试基板装置包括：基板本体；保护壳和可透光的窗口片，保护壳的一端可拆卸地固定于基板本体的端面上，并在基板本体上围合成一个用于容置光敏芯片的保护腔，保护壳上远离基板本体的一端具有一窗口，窗口片的四周固定于窗口；及一一对应设置的键压电极和延伸电极，键压电极固定于基板本体的端面，延伸电极的一端与键压电极电性连接，且延伸电极的另一端用于和光敏芯片电性连接，延伸电极与保护壳绝缘设置。首先通过基板本体上的保护壳将光敏芯片完整覆盖，避免测试过程中光敏芯片产生物理损伤。再者，通过螺钉及限位插片的组合，保护壳与基板本体实现可拆卸连接，具有良好的可操作性和重复使用性。