一种信号选通装置、芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202023348442.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214174564U | 公开（公告）日 | 2021-09-10 |
| 申请公布号 | CN214174564U | 申请公布日 | 2021-09-10 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请（专利权）人 | 浙江地芯引力科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 曹瑞敏 |
| 地址 | 311215浙江省杭州市萧山区建设三路733号信息港五期H座111 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种信号选通装置、芯片测试装置，涉及集成电路技术领域。该信号选通装置包括：导通控制模块、译码模块、电流采样模块以及电压调节模块；该译码模块、该电流采样模块以及该电压调节模块分别与该导通控制模块连接；该导通控制模块包括多个开关，多个开关以开关矩阵方式相互连接；该译码模块用于接收测试控制指令，并根据该测试控制指令控制该导通控制模块中的各开关的打开或关闭，以向与该导通控制模块连接的被测试芯片供电以及接收来自该被测试芯片的测试信号。应用本实用新型实施例，可以提高对系统芯片的测试效率。 |
