一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法

基本信息

申请号	CN201911059277.0	申请日	-
公开（公告）号	CN110780246A	公开（公告）日	2020-02-11
申请公布号	CN110780246A	申请公布日	2020-02-11
分类号	G01R33/3875;G01R33/36	分类	测量；测试;
发明人	宋侃	申请（专利权）人	武汉中科开物技术有限公司
代理机构	上海精晟知识产权代理有限公司	代理人	汤蔚莉
地址	430000 湖北省武汉市东湖开发区光谷七路128号
法律状态	-

摘要

本发明提出了一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法，包括以下步骤：S1，测量探头射频线圈中心的射频场空间分布；S2，根据选择的匀场线圈组合设定一维梯度匀场的脉冲序列并调制序列参数；S3，测量并拟合匀场线圈的场图；S4，将射频场空间分布针对匀场线圈的场图进行加权；S5，测量并拟合待匀场的静磁场场图；S6，将射频场空间分布针对待匀场的静磁场场图进行加权；S7，计算匀场线圈的电流改变量；S8，通过剩磁场空间分布谱学特性判断是否需要迭代。本发明通过直接测量探头的实际射频场空间分布，加权于梯度匀场的静磁场场图和匀场线圈场图拟合计算匀场电流，通过剩磁场空间分布的谱学特性建立虚拟谱图并评价线形指标，最终优化迭代直至收敛。