一种电子元器件累计剂量辐照试验支架
基本信息
| 申请号 | CN202020533536.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212301618U | 公开（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申请公布号 | CN212301618U | 申请公布日 | 2021-01-05 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何亮;易军;谭小雄;张经恒 | 申请（专利权）人 | 深圳市金鹏源辐照技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市远方鼎立知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘飞燕 |
| 地址 | 518000广东省深圳市罗湖区东盛路68号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种电子元器件累计剂量辐照试验支架，包括底座壳和试验支架，所述底座壳的中部固定连接有收纳槽，所述收纳槽的顶部固定连接有试验支架，所述收纳槽的内部滑动连接有剂量盒。该电子元器件累计剂量辐照试验支架，通过透明盖体和放大镜片的设置，透明盖体翻转调整至底座壳的顶部，使其整体对试验支架外围起到密封遮挡的作用，而其中部安装的放大镜片方便了试验人员对检测器件的精确观察，更降低了检测器件对试验人员造成的辐射危害情况，通过收纳槽和剂量盒的设置，对可能出现滴漏液体情况提供底部收纳的作用，方便了试验人员在后期的卫生处理性，更是间接降低了剂量造成的二次辐照危害影响。 |
