一种测试向量的无损压缩和解压缩方法
基本信息
| 申请号 | PCT/CN2020/115359 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | WO2021052329A1 | 公开（公告）日 | 2021-03-25 |
| 申请公布号 | WO2021052329A1 | 申请公布日 | 2021-03-25 |
| 分类号 | H03M7/30 | 分类 | 基本电子电路; |
| 发明人 | CHEN, TING;陈廷 | 申请（专利权）人 | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | SHANGHAI TIANCHEN INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY;上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
| 地址 | WANG, Zoe,2F, Building 2, First Block, Gangcheng Square, NO.128, Yunjaun Rd, Pudong,Shanghai 201306 CN | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种测试向量的无损压缩方法，包括如下步骤：S01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；S02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：设置宽度为1bit深度为M行的窗口，将窗口从该列数据的顶部开始逐行向下滑行，依次形成每一列的压缩字和非压缩字；S03：将每一列数据的压缩数据进行汇合，形成压缩数据流。本发明提供一种测试向量的无损压缩和解压缩方法，压缩方法简单快速，可适用于ATE测试领域。 |
