一种在产线测试中检测RAM的方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110434148.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113140251A | 公开（公告）日 | 2021-07-20 |
| 申请公布号 | CN113140251A | 申请公布日 | 2021-07-20 |
| 分类号 | G11C29/10（2006.01）I;G11C29/48（2006.01）I;G11C29/50（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 刘宏涛;梁辉 | 申请（专利权）人 | 深圳市研强物联技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市海盛达知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵雪佳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷七栋B座2501-2503房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种在产线测试中检测RAM的方法，包括：数据下载站设定数据包并与检测设备建立连接；检测设备下载数据包前，随机从RAM中抽出单个数据存储单元，进行读写运算，检测RAM信息；检测设备下载数据包，并检测下载过程中RAM信息；在数据包下载后开机检查，通过信息摘要算法检测RAM在运算过程中信息；在老化站最大负载运行RAM，并通过信息摘要法运算以及对RAM内部剩余空间不断的运算，检测RAM在运算过程中信息；恢复出厂设置，重启检测RAM信息；显示检测结果。本发明通过将多种检测手段结合反复检测，在不增加检测周期的情况下能够最大概率的拦截不良RAM，解决了单次测试往往发现不了RAM故障的问题。 |
