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一种提高磁强计分辨率指标的系统

基本信息

申请号 CN201821286111.3 申请日 -
公开（公告）号 CN208421201U 公开（公告）日 2019-01-22
申请公布号 CN208421201U 申请公布日 2019-01-22
分类号 G01R33/02 分类 测量；测试;
发明人 田蕊;陈德祥;冯强涛;刘艳龙 申请（专利权）人 北京鹏宇思睿科技有限公司
代理机构 北京市盛峰律师事务所 代理人 北京鹏宇思睿科技有限公司
地址 100085 北京市海淀区安宁庄路26号楼4层401
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种提高磁强计分辨率指标的系统，涉及磁场的精准测量技术领域。包括：一阶无差系统、一阶映射系统和二阶映射系统，所述一阶映射系统和二阶映射系统为所述一阶无差系统的平行反馈系统，所述一阶映射系统通过反馈抵消绝大部分测量磁场，所述二阶映射系统利用磁强计模拟输出电压作为反馈源，通过电阻转换为电流直接反馈给磁强计探头。该系统中，使用二阶映射将有限的模拟电压范围对应小量程磁场值，分辨率可以比现有技术方案提高了两个数量级；另外，由于一阶映射为粗映射，一方面对数/模模块和模/数模块精度依赖大大降低，另一方面减少了元器件成本。