一种基于一维距离像特征的杂波图检测与更新方法
基本信息
| 申请号 | CN202110531988.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113253231A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN113253231A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G01S7/41（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李玮璐;林玉新;何晓;尤立峰;徐逊 | 申请（专利权）人 | 成都西科微波通讯有限公司 |
| 代理机构 | 成都正华专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 代维凡 |
| 地址 | 610000四川省成都市外西谢家祠四威电子大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于一维距离像特征的杂波图检测与更新方法，其包括以下步骤：S1、建立初始杂波图，获取一维距离像信息熵和中心矩特征；S2、获取杂波底参考数据；S3、获取超过检测门限的回波点；S4、获取当前扫描帧数据的一维距离像信息熵和中心矩特征；S5、存储临时杂波图，记录各角度下的一维距离像信息熵和中心矩特征；S6、判断是否进行杂波图更新；S7、将临时杂波图更新至初始杂波图中，完成基于一维距离像特征的杂波图更新。本方法可以自动分辨扫描场地中是否出现异常大目标，若判断当前场地出现异常大目标，则将该大目标进行上报并在该扫描周期中不进行杂波图更新，进而不会影响后续异物检测的结果，提高检测效果。 |
