温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN202110573695.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113340468A | 公开（公告）日 | 2021-09-03 |
| 申请公布号 | CN113340468A | 申请公布日 | 2021-09-03 |
| 分类号 | G01K15/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 胡月明 | 申请（专利权）人 | 上海申矽凌微电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海段和段律师事务所 | 代理人 | 李佳俊;郭国中 |
| 地址 | 201108上海市闵行区虹梅南路2588号1幢A320室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法，包括：标准温度发生器，产生温度传感器精度测试所需的温度；PC机，与标准温度发生器和被测温度传感器芯片连接；上位机软件：控制标准温度发生器，读取温度传感器芯片温度，自动完成温度传感器芯片全温度范围内精度测试。本发明提供的自动化测试的方法可以缩短温度芯片的全温测试时间，减少测试人员投入，避免测试中的人为主观影响和干扰，较大地提高了测试效率和测试结果可靠性。 |
