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电子设备使用状态检测方法、装置、电子设备和存储介质

基本信息

申请号 CN202111295400.6 申请日 -
公开（公告）号 CN114166342A 公开（公告）日 2022-03-11
申请公布号 CN114166342A 申请公布日 2022-03-11
分类号 G01J1/42（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 刘丽铭;申崇渝;刘国旭 申请（专利权）人 北京易美新创科技有限公司
代理机构 北京嘉科知识产权代理事务所（特殊普通合伙） 代理人 司彦斌
地址 100176北京市大兴区北京经济技术开发区经海五路58号院3号楼3层
法律状态 -

摘要

摘要 本公开涉及光电检测技术领域，提供了电子设备使用状态检测方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：获取在黑暗环境下判定电子设备处于目标使用状态的预设信号幅值范围；控制光电传感器的光发射单元在包括至少一个发射周期的预设时长内按照预设频率发射红外光信号；控制光电传感器的光检测单元接收预设时长内的光发射单元关闭与开启状态下的第一光信号和第二光信号，并对应输出为第一电信号和第二电信号；将每个发射周期内的第一电信号叠加至预设信号幅值范围，得到目标信号幅值范围，将第二电信号作为检测信号；若检测信号满足预设条件，确认设置有光电传感器的电子设备当前处于目标使用状态。本公开提高了光电传感器的抗环境光干扰能力。