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一种减小宽光谱透过率测量误差的方法

基本信息

申请号 CN202010793817.4 申请日 -
公开（公告）号 CN111829971A 公开（公告）日 2020-10-27
申请公布号 CN111829971A 申请公布日 2020-10-27
分类号 G01N21/31(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 宋光均;吴剑峰;蒋之辉 申请（专利权）人 广州标旗光电科技发展股份有限公司
代理机构 广州正明知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 广州标旗光电科技发展股份有限公司
地址 510000广东省广州市黄埔区彩频路7号701-1房
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及光谱测量技术领域，公开了一种减小宽光谱透过率测量误差的方法，具体是进行样品检测时，通过增强入射光全波长的光谱强度，提高测量信号，减小样品的透过率测量误差。本发明从光透过率定义出发，综合光谱仪的检测原理、发光元器件的工作原理等，无需调节光程，样品不受状态限制，固体、液体均可。通过增强入射光全波长的光谱强度，能够获取更高的样品透射信号，使得光谱仪的信噪比显著提高，从而减小了样品透过率的测量误差。本发明方法不受样品形态、光谱检测范围的限制，且操作简单，可广泛应用于多种样品类型的宽光谱检测。