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一种集成式便于快速对准测量的结构

基本信息

申请号 CN202121110745.5 申请日 -
公开（公告）号 CN214667546U 公开（公告）日 2021-11-09
申请公布号 CN214667546U 申请公布日 2021-11-09
分类号 G01M11/00（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 王章鹏;邢雪冰;方磊;朱国山;胡召意;查根胜 申请（专利权）人 安徽华创鸿度光电科技有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 230001安徽省合肥市庐阳区天水路中科大校友创新园6号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及激光测量技术领域，具体为一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体，所述装置本体包括光学底板，所述光学底板上设有光束质量分析仪，所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜，所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片，所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器。本实用新型通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片，这样利用可调节的反射镜和偏振片来实现改变入射光的偏振态，进而控制进入光束质量分析仪的功率大小，这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程，从而达到快速调试，让本装置的测量效率更高，同时本装置结构简单、操作简便，更加便于工作人员进行操作。