电子元件表面缺陷检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201820741232.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN208334214U | 公开（公告）日 | 2019-01-04 |
| 申请公布号 | CN208334214U | 申请公布日 | 2019-01-04 |
| 分类号 | G01N21/88 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 金建德 | 申请（专利权）人 | 陕西海测电子技术服务有限公司 |
| 代理机构 | 西安佩腾特知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陕西海测电子技术服务有限公司 |
| 地址 | 710075 陕西省西安市雁塔区科技路付6号华凯大厦1楼东户 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了电子元件表面缺陷检测装置，包括底座，底座的一侧上设有定位座，定位座的对内朝向面位置设有定位槽，定位座的顶部设有一对导向轴，导向轴呈竖直布置，导向轴的顶部之间设有顶板，顶板的中部位置设有液压缸，液压缸的下部设有活塞杆，活塞杆的下端设有升降架，升降架的下部设有放大镜，放大镜与升降架的一侧之间设有滑管，滑管套装在导向轴的外周面。本实用新型可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。 |
